元素范圍從S到U
檢測(cè)限1ppm
分辨率160ev
重復(fù)性0.1
分析時(shí)間30s到200s
環(huán)境溫度15-30度
電源電壓220v
整機(jī)功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析,無需化學(xué)前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測(cè)試開發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合得獎(jiǎng)號(hào)分析、有害元素分析,土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等,形態(tài)為固體、液體、粉末等。

工作原理
X熒光光譜ROHS檢測(cè)儀工作原理是由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線(一次射線),激勵(lì)被測(cè)樣品。樣品中的每一種元素會(huì)放射出的二次X射線,并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將控測(cè)系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理,測(cè)試出待測(cè)產(chǎn)品的元素含量。

ROHS檢測(cè)儀流線型人機(jī)設(shè)計(jì),**您的操作,機(jī)操作指示燈,帶您體驗(yàn)舒適操作新概念,光管良好的屏蔽作用,,性能穩(wěn)定可靠,
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能,帶給您防護(hù)。

根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級(jí)的需求,特別設(shè)計(jì)該款EDX0B。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。
性能特點(diǎn)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說,精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的,測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng),則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準(zhǔn)確度也一定差。反之,準(zhǔn)確度很差,精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量,稱為檢出限(或叫檢出限)。這時(shí)候,測(cè)到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測(cè)定檢出,一般要用含量比較低的樣品來測(cè)量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保,由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì),但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值(N)的分布屬于隨機(jī)事件,其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng),則相對(duì)偏差越小,即精度越高。
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