EDX4500H具有分析速度快，檢測精度高，儀器重復(fù)性好，使用壽命長，維護(hù)成本低等優(yōu)點(diǎn)，是集天瑞儀器 二十余年的x射線熒光光譜儀研發(fā)技術(shù)結(jié)晶，實(shí)現(xiàn)對各種復(fù)雜礦物、有色金屬、復(fù)合新型材料等元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的鉛、鎘、砷、鎳、銅、鋅等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

另外，在ROHS分析、鍍層測厚、鹵素檢測、紅磷成分分析、合金黃銅分析、礦石全元素分析、土壤重金屬、沉積物分析等檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

性能特點(diǎn)

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性

高信噪比的電子線路單元

低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍

針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先進(jìn)水平

較新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35-70

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）

同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時(shí)間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數(shù)字多道技術(shù)

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家注冊資本高達(dá)46176萬元，旗下多個(gè)子公司，以光譜，色譜、質(zhì)譜為核心的高科技分析儀器企業(yè)，公司還是一家上司企業(yè)，在深圳創(chuàng)業(yè)板上司，股票代碼300165。

天瑞儀器的發(fā)展歷程：

2011年1月25日，天瑞儀器在深證創(chuàng)業(yè)板塊上市。股票代碼為300165。

2011年4月25日，天瑞儀器推出SUPER XRF 2400，其超微量元素檢測的獨(dú)特功能將傳統(tǒng)XRF性能提升數(shù)倍。

2011年4月26日，在2011中國科學(xué)儀器發(fā)展年會上，天瑞儀器被授予“2010年度較具影響力國內(nèi)儀器產(chǎn)商”及“2010年度較佳網(wǎng)絡(luò)營銷獎(jiǎng)”。

2011年5月18日，天瑞儀器董事長劉召貴博士喜獲**特殊津貼

天瑞儀器的銷售營業(yè)網(wǎng)點(diǎn)遍布全國，在全國三十個(gè)省市設(shè)立辦事機(jī)構(gòu)，成立全國統(tǒng)一客戶服務(wù)中心。--，800-9993-800。由客戶服務(wù)中心統(tǒng)一安排全國及海外的售后維護(hù)。我們?yōu)榭蛻舫兄Z4小時(shí)響應(yīng)，國內(nèi)24-72小時(shí)的及時(shí)上門服務(wù)。

天瑞儀器的成交客戶，遍布國內(nèi)外知名企業(yè)，500強(qiáng)。

XRF優(yōu)點(diǎn)、缺點(diǎn)

a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。

c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

缺點(diǎn)

a）難于作絕對分析，故定量分析需要標(biāo)樣。

b）對輕元素的靈敏度要低一些。

c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。