元素范圍從S到U
檢測限1ppm
分辨率160ev
重復(fù)性0.1
分析時間30s到200s
環(huán)境溫度15-30度
電源電壓220v
整機功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報價和說明。一鍵式設(shè)計的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析,無需化學前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡化測試手段。
探測器內(nèi)包含前置放大器與主放大器電路,一體 化設(shè)計保證儀器有好的穩(wěn)定性和可靠性分辨率底可達140eV(計數(shù)率1000/S左右時
新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計,保證光管的散熱,提高光管的 使用壽命。高壓5-50KV電流達至iJ1mA (可根據(jù)客戶要求由軟件設(shè)置)
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng),中文版軟件(可安裝英文 軟件)件設(shè)置)
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能,可以更好的保護測試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析,自動元素識別功能,方便對樣品 元素的識別和定性,并可以打印具有譜圖的定性分析 報告
可以由軟件自動控制切換準直器和濾光片,減少因人 為更換錯誤準直器,而造成測量的誤差

工作原理
X熒光光譜ROHS檢測儀工作原理是由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線(一次射線),激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線,并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將控測系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理,測試出待測產(chǎn)品的元素含量。

應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀
行,飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應(yīng)用
平臺:精細的手動平臺,方便定位測試點
高分辨率探測器:提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用,X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠,高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能,帶給您防護

熒光光譜儀是一種波長較短的電磁,通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征,通過側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光,即可獲知樣品中的元家組成,得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產(chǎn)生與特性當用高能電子束照射樣品時,人射高能電子被樣品中的電子減速,這種帶電拉子的負的加速度會產(chǎn)生寬帶的連續(xù)X射線譜,簡稱為連續(xù)潛或韌致。另一方面,化學元素受到高能光子或粒子的照射,如內(nèi)層電子被激發(fā),則當外層電子躍遷時,會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜。如果激發(fā)光源為x射線,則受激產(chǎn)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產(chǎn)生的過程。
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說,精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的,測量的時間越長,則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標準偏差。
3.準確度
定義為各次測定值mi對于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準確度也一定差。反之,準確度很差,精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量,稱為檢出限(或叫檢出限)。這時候,測到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測定檢出,一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質(zhì)的測量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保,由儀器機械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計,但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值(N)的分布屬于隨機事件,其標準偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長,則相對偏差越小,即精度越高。
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