天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報價和說明。一鍵式設(shè)計的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析，無需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
ROHS檢測儀流線型人機(jī)設(shè)計，**您的操作，機(jī)操作指示燈，帶您體驗舒適操作新概念，光管良好的屏蔽作用，，性能穩(wěn)定可靠，
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解讀RoHS指令和WEEE指令
2003年2月13日，歐盟公布了《關(guān)于報廢電子電氣設(shè)備的指令》（2002/96/EC,簡稱WEEE）和《關(guān)于電子 電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令》（2002/95/EC,簡稱RoHS）,規(guī)定從2005年8月13日起實施WE EE的生 產(chǎn)者責(zé)任，從2006年7月1日起在相關(guān)電子電器中禁止使用六種有害物質(zhì)。有害物質(zhì)元素 Cd Pb Hg Cr6+ PBBS PBDES  Cl Cl+Br

XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測儀器，由于其檢測速度快、分辨率高、實施無損檢測，所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多，以至于分不出誰好誰差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到：“用能量散射X射線熒光光譜法（ED－XRF）或波長散射X射線熒光光譜法（WD－XRF）對試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測試，可以是直接測量樣品（不破壞樣品），也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”（機(jī)械破壞試樣）后測試?！蹦苷嬲郎?zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測。尤其是企業(yè)選購，光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測用，非?？粗剡@一點。所以，能夠準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，又能限度地縮小“不確定”部分，而且全部過程是在短的時間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀

工作原理
X熒光光譜ROHS檢測儀工作原理是由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將控測系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，測試出待測產(chǎn)品的元素含量。
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質(zhì)的測量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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