ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
玩具法規(guī)在全世界范圍內(nèi)不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標準-ASTM F963、ISO中一些關(guān)于玩具標準。這些標準對于玩具企業(yè)來說，執(zhí)行這些標準責無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實是玩具企業(yè)沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設(shè)備，X熒光光譜儀是經(jīng)濟有效的檢測設(shè)備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學檢測媲美，還節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測工具。

EDX5600是國內(nèi)應(yīng)用多的一款設(shè)備，除了較高的性價比外，其更人性化的設(shè)計軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應(yīng)用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對ROHS六項測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時間可人為設(shè)置，可短或長。一般測量時間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01% 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：半導體電子制冷探測器，分辨率可達165eV準直器：8種準直器自動切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

技術(shù)指標:
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9%
重復性：0.1%
穩(wěn)定性：0.1%
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機構(gòu) 
上蓋電動開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動切換的準直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
計算機及噴墨打印機 
X熒光分析軟件

RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》（Restriction
 of Hazardous 
Substances）。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器該標準將于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于消除電機電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、和醚共6項物質(zhì)，并重點規(guī)定了鉛的含量不能超過0.1%。其中涉及到的鉛主要出處有以下幾類。
[編輯本段]歐盟RoHS和WEEE指令的基本內(nèi)容
歐盟議會及歐盟會于2003年2月13日在其《公報》上發(fā)布了《廢舊電子電氣》設(shè)備指令（簡稱《WEEE指令》）和《電子電氣功設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》（簡稱《RoHS指令》）
《RoHS指令》和《WEEE指令》規(guī)定納入有害物質(zhì)限制管理和報廢回收管理的有類102種產(chǎn)品，前七類產(chǎn)品都是我國主要的出口電器產(chǎn)品。ROHS檢測儀,ROHS測試儀器包括大型家用電器、小型家用電器、信息和通訊設(shè)備、消費類產(chǎn)品、照明設(shè)備、電氣電子工具、玩具、休閑和運動設(shè)備、設(shè)備（被植入或被感染的產(chǎn)品除外）、監(jiān)測和控制儀器、自動售賣機。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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